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泰思肯MAGNA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

發(fā)布時(shí)間:2024-04-08

產(chǎn)品型號(hào):

產(chǎn)品特點(diǎn):MAGNA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

泰思肯MAGNA新一代超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的詳細(xì)資料:

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

TESCAN MAGNA是一款功能極其強(qiáng)大的分析儀器,適用于納米材料的形貌表征以及微觀分析。MAGNA配置 Triglav™  SEM 鏡筒,具有超高的分辨率,在低電壓下尤為明顯;鏡筒內(nèi)探測(cè)器系統(tǒng)具有電子信號(hào)過(guò)濾能力,可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度,非常適用于不導(dǎo)電樣品的成像,如陶瓷、無(wú)涂層生物樣品,以及在半導(dǎo)體光敏樣品等。

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • *的實(shí)時(shí)電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™)功能,可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強(qiáng)度。
  • *的TriBETMTriSETM In-Beam探測(cè)器系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)更*進(jìn)的納米尺度表征。
  • TESCAN Essence™便利的電鏡操作軟件。
  • 可以配置TESCAN自有或第三方的多種擴(kuò)展分析附件,如EDSEBSDCLRaman聯(lián)用。

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